缺陷的處理過程或缺陷的生命周期就是一個缺陷從創(chuàng)建到關(guān)閉的全過程。這個過程中根據(jù)開發(fā)與產(chǎn)品的策略，一個缺陷可能會經(jīng)歷以下幾種不同的處理場景：

場景1：確認BUG解決

測試提交缺陷【New】 ==》開發(fā)確認缺陷【Open】 ==》開發(fā)解決缺陷【Fixed】==》測試回歸缺陷 ==》關(guān)閉缺陷【Closed】

場景2：驗證未通過，缺陷仍存在

測試提交缺陷【New】==》開發(fā)確認缺陷【Open】 ==》開發(fā)解決缺陷【Fixed】==》測試回歸缺陷 ==》指派給開發(fā)重新解決【Reopen】

場景3：重新打開

關(guān)閉后的缺陷，再次出現(xiàn)，測試人員把關(guān)閉的缺陷重新打開

場景4：開發(fā)延期處理

測試提交缺陷[New] ==》 開發(fā)確認缺陷[Open] ==> 延期處理【Postponed】

場景5：拒絕處理

測試提交缺陷[New] ==》 開發(fā)確認缺陷[Open] ==> 拒絕處理【Reject】。
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